An edition of Testverfahren in der Mikroelektronik (1997)
Methoden und Werkzeuge
By Wilfried Daehn
Publish Date
1997
Publisher
Springer Berlin Heidelberg
Language
ger
Pages
-
Description:
subjects: Testmuster, Selbsttest, Algorithmus, Logische Schaltung, Digitale integrierte Schaltung, Testbarkeit, Fehlererkennung